昆山胜泽光电科技有限公司
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产品详细
产品名称： 半导体显微膜厚测量仪
发布日期： 2017-04-25
点击数： 8438
二维码：
简述：
产品详情
半导体小光斑显微膜厚测量仪介绍页：
型号：A3-SRM-100; 波长范围：400-900nm, 测量范围：15nm-100um, 光斑大小5-40um
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